Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měřicí sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

1. účinné od 1. 3. 20041.1 Měřicí sestava se používá pro měření amplitudové charakteristiky a měrných ztrát plechů pro elektrotechniku. Skládá se z přístrojů a zařízení zapojených podle obrázků 1 až 3 a specifikovaných v bodu 2.
2. účinné od 1. 3. 20041.2 Etalonový vzorek pro Epsteinův přístroj příslušející k měřicí sestavě je vzorek splňující požadavky této vyhlášky a používaný výhradně k metrologické návaznosti měřicí sestavy.
3. účinné od 1. 3. 20041.3 Etalonová měřicí sestava je měřicí sestava podle bodu 1.1, která je v držení metrologické instituce, je dlouhodobě sledovaná a prostřednictvím etalonových vzorků mezinárodně porovnaná.
4. účinné od 1. 3. 20041.4 Měrné ztráty měřené měřicí sestavou jsou ztráty přemagnetováním v měřeném vzorku vztažené k aktivní hmotnosti vzorku.
5. účinné od 1. 3. 20041.5 Amplitudová charakteristika je závislost amplitudy magnetické polarizace ve vzorku na amplitudě intenzity magnetického pole ve vzorku.

1. účinné od 1. 3. 20042.1 METROLOGICKÉ POŽADAVKY

   účinné od 1. 3. 2004Měřicí sestava se skládá z částí, které musí splňovat tyto požadavky:

   1. účinné od 1. 3. 2004a) Epsteinův přístroj specifikovaný v bodu 2.2,
   2. účinné od 1. 3. 2004b) měřidlo frekvence měřící s chybou 0,1 % nebo menší,
   3. účinné od 1. 3. 2004c) voltmetr střední hodnoty měřící s chybnou 0,2 % nebo menší,
   4. účinné od 1. 3. 2004d) voltmetr efektivní hodnoty měřící s chybou 0,2 % nebo menší,
   5. účinné od 1. 3. 2004e) měřidlo výkonu měřící s chybou 0,5 % nebo menší při aktuálním účiníku a crest faktoru, resistance napěťového obvodu měřidla výkonu musí být nejméně 5000 krát větší než jeho reaktance,
   6. účinné od 1. 3. 2004f) voltmetr amplitudy měřící s chybou 0,5 % nebo menší ve spojení s odporem s vyhovujícím povoleným proudem a hodnotou známou s chybou 0,2 % nebo menší (místo voltmetru amplitudy s odporem lze použít vzájemnou indukčnost s vyhovujícím povoleným proudem v primárním vinutí a s hodnotou známou s chybou 0,2 % nebo menší spolu s dvoupólovým přepínačem a voltmetrem střední hodnoty),
   7. účinné od 1. 3. 2004g) zdroj magnetovacího proudu s nízkou výstupní impedancí a vysokou stabilitou napětí a frekvence, kolísání napětí a frekvence nesmí být větší než 0,2 % použité hodnoty. Pro měření měrných ztrát musí být zajištěn činitel tvaru sekundárního napětí 1,111 ± 1%.

   účinné od 1. 3. 2004Součástí měřicí sestavy jsou navazovací etalonové vzorky, které musí magnetickými vlastnostmi a hmotností odpovídat vzorkům, které jsou měřicí sestavou běžně měřeny. Tyto vzorky musí splňovat příslušné požadavky bodu 2.2.

1. účinné od 1. 3. 20042.2 TECHNICKÉ POŽADAVKY
   1. účinné od 1. 3. 20042.2.1 Konstrukce
      1. účinné od 1. 3. 20042.2.1.1 Epsteinův přístroj

         účinné od 1. 3. 2004Epsteinův přístroj se skládá ze čtyř cívek, do kterých se vkládají pásky zkoušeného vzorku elektroplechu. Kostry cívek jsou vyrobeny z tvrdého isolačního materiálu, mají obdélníkový průřez s vnitřní šířkou 32 mm. Doporučovaná vnitřní výška je 10 mm. Cívky jsou upevněny na desce z isolačního a nemagnetického materiálu tak, že tvoří čtverec. Délka strany čtverce vnitřních hran pásků vloženého vzorku je (220 +1 -0) mm.

         účinné od 1. 3. 2004Každá cívka má dvě vinutí – vnější primární vinutí a vnitřní sekundární vinutí. Mezi nimi může být elektrostatické stínění. Vinutí musí být navinuto rovnoměrně na délce 190 mm, každá cívka má jednu čtvrtinu celkového počtu závitů. Primární vinutí všech cívek je sériově spojeno, stejně je sériově spojeno sekundární vinutí všech cívek. Počet závitů není předepsán, ale obvykle je 700 pro užívání při frekvenci 50 Hz.

         účinné od 1. 3. 2004K maximálnímu snížení vlivu impedancí vinutí musí tyto impedance splňovat tyto podmínky:

         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         1. účinné od 1. 3. 2004kde R₁ a R₂ jsou resistence primárního resp. sekundárního vinutí,
         2. účinné od 1. 3. 2004L₁ a L₂ jsou induktance primárního resp. sekundárního vinutí,
         3. účinné od 1. 3. 2004N₁ a N₂ jsou celkové počty závitů primárního a sekundárního vinutí.

         účinné od 1. 3. 2004Epsteinův přístroj musí být kompenzován s ohledem na magnetický tok vzduchem. Za tím účelem je uprostřed prostoru ohraničeného cívkami Epsteinova přístroje umístěna cívka vzájemné indukčnosti, její osa je kolmá k rovině tvořené osami cívek Epsteinova přístroje. Primární vinutí této kompenzační cívky je zapojeno v sérii s primárním vinutím Epsteinova přístroje a sekundární vinutí je zapojeno v sérii se sekundárním vinutím Epsteinova přístroje tak, aby indukovaná napětí v těchto sekundárních vinutích byla opačné polarity. Nastavení hodnoty kompenzační vzájemné indukčnosti je takové, že při průchodu střídavého proudu primárními vinutími při prázdném Epsteinově přístroji (vzorek není vložen) napětí měřené mezi volnými nespojenými konci sekundárních vinutí není větší než 0,1 % napětí na sekundárním vinutí nekompenzovaného Epsteinova přístroje.

      1. účinné od 1. 3. 20042.2.1.2 Etalonové vzorky

         účinné od 1. 3. 2004Součástí měřicí sestavy jsou etalonové vzorky pro Epsteinův přístroj (dále jen „etalonové vzorky“). Tyto vzorky musí magnetickými vlastnostmi a hmotností pokrývat rozsah magnetických vlastností a hmotností vzorků, které jsou měřicí sestavou běžně měřeny.

         účinné od 1. 3. 2004Etalonové vzorky jsou vyrobeny z elektrotechnické oceli. Pásky etalonového vzorku musí být ploché, jsou stříhány bez viditelných otřepů a nerovných okrajů a pokud je to specifikováno, jsou tepelně zpracovány. Pásky musí být čisté, bez okují a jiných nečistot. Pásky vzorku mají následující rozměry:

         1. účinné od 1. 3. 2004šířka 30 mm ± 0,2 mm, délka je větší nebo rovna 280 mm a menší nebo rovna 320 mm.

         účinné od 1. 3. 2004Délka pásků musí být stejná s tolerancí ± 0,5 mm. Když jsou pásky stříhány rovnoběžně nebo kolmo se směrem válcování, okraje mateřského pásu nebo tabule jsou brány jako referenční směr. Pásky vzorku zhotoveného z orientovaného materiálu musí mít směr delší osy pásku odlišný od směru válcování nejvýše o ± 1⁰. U pásků vzorku zhotoveného z neorientovaného materiálu musí mít polovina pásků směr delší osy shodný se směrem válcování s tolerancí nejvýše ± 5⁰ a druhá polovina pásků má směr delší osy kolmý na směr válcování s tolerancí nejvýše ± 5⁰. Na každém pásku musí být patrný směr válcování. Pásky s delší osou ve směru válcování se vkládají do protilehlých rovnoběžných cívek Epsteinova přístroje a pásky s delší osou kolmou na směr válcování se vkládají do zbývajících cívek.

         účinné od 1. 3. 2004Počet pásků vzorku je dělitelný čtyřmi. Aktivní hmotnost etalonového vzorku musí být nejméně 240 g pro vzorky dlouhé 280 mm.

         účinné od 1. 3. 2004Efektivní délka magnetického obvodu vzorku l_m je stanovena dohodou 0,94 m. Aktivní hmotnost vzorku m_a je dána vztahem

         účinné od 1. 3. 2004
         1. účinné od 1. 3. 2004kde
         2. účinné od 1. 3. 2004l je délka pásku vzorku v m,
         3. účinné od 1. 3. 2004l_m je efektivní délka magnetického obvodu 0,94 m,
         4. účinné od 1. 3. 2004m je celková hmotnost vzorku v kg,
         5. účinné od 1. 3. 2004m_a je aktivní hmotnost vzorku v kg.
      1. účinné od 1. 3. 20042.2.1.3 Měřicí sestava
         1. účinné od 1. 3. 20042.2.1.3.1 Měřicí sestava pro měření měrných ztrát

            účinné od 1. 3. 2004Měřicí sestava pro měření měrných ztát je zapojena podle schématu na obrázku 1. Magnetovací proud je pomalu zvyšován až se dosáhne požadované střední hodnoty usměrněného napětí |U_2m| na sekundárním vinutí Epsteinova přístroje. Přičemž se ampérmetrem sleduje hodnota magnetovacího proudu, aby proudový obvod wattmetru nebyl přetížen. Střední hodnota napětí je vypočtena z požadované amplitudy magnetické polarizace podle:

            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004kde
            2. účinné od 1. 3. 2004|U_2m| je střední hodnota usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí ve V,
            3. účinné od 1. 3. 2004ƒ je frekvence v Hz,
            4. účinné od 1. 3. 2004N₂ je celkový počet závitů sekundárního vinutí,
            5. účinné od 1. 3. 2004A je průřez vzorku v m²,
            6. účinné od 1. 3. 2004J_a je amplituda magnetické polarizace v T,
            7. účinné od 1. 3. 2004R_i je celková resistence přístrojů v sekundárním obvodu v Ω,
            8. účinné od 1. 3. 2004R_t je součet resistencí sekundárních vinutí Epsteinova přístroje a kompenzační vzájemné indukčnosti,
            9. účinné od 1. 3. 2004Průřez vzorku se vypočte z rovnice
            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004kde
            2. účinné od 1. 3. 2004A je průřez vzorku ve čtverečních m,
            3. účinné od 1. 3. 2004m je celková hmotnost vzorku v kg,
            4. účinné od 1. 3. 2004l je délka pásků vzorku v m,
            5. účinné od 1. 3. 2004ρ_m je stanovená hustota materiálu vzorku v kg/m³.
            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004Obrázek 1

            účinné od 1. 3. 2004Ampérmetr v primárním obvodu se zkratuje a napětí se potom popřípadě dorovná na požadovanou hodnotu. Podílem střední hodnoty a efektivní hodnoty indukovaného napětí se stanoví činitel tvaru indukovaného napětí, který musí být 1,111 ± 1%.

            účinné od 1. 3. 2004Z údaje wattmetru se vypočtou celkové ztráty P_c podle

            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004kde
            2. účinné od 1. 3. 2004P_c jsou celkové vypočtené ztráty vzorku ve W,
            3. účinné od 1. 3. 2004P_m je výkon změřený wattmetrem ve W,
            4. účinné od 1. 3. 2004N₁ je celkový počet závitů primárního vinutí,
            5. účinné od 1. 3. 2004N₂ je celkový počet závitů sekundárního vinutí
            6. účinné od 1. 3. 2004R_i je celková ekvivalentní resistence přístrojů v sekundárním obvodu v Ω
            7. účinné od 1. 3. 2004|U_2m| je střední hodnota usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí ve V.

            účinné od 1. 3. 2004Měrné ztráty P_s se vypočtou podle vztahu

            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004kde
            2. účinné od 1. 3. 2004P_s jsou celkové měrné ztráty vzorku ve W/kg,
            3. účinné od 1. 3. 2004l je délka pásku vzorku v m,
            4. účinné od 1. 3. 2004l_m je smluvená efektivní délka magnetického obvodu v m (l_m = 0,94 m),
            5. účinné od 1. 3. 2004m je celková hmotnost vzorku v kg,
            6. účinné od 1. 3. 2004m_a je aktivní hmotnost vzorku v kg,
            7. účinné od 1. 3. 2004P_c jsou vypočtené celkové ztráty vzorku ve W.
         1. účinné od 1. 3. 20042.2.1.3.2 Měřicí sestava pro měření amplitudové charakteristiky

            účinné od 1. 3. 2004Měřicí sestava pro měření amplitudové charakteristiky je zapojena podle schématu na obrázku 2 nebo na obrázku 3. Před měřením amplitudové charakteristiky se musí vzorek odmagnetovat nastavením takového střídavého magnetovacího proudu, který odpovídá nasycené magnetické polarizaci ve vzorku, a jeho pomalým postupným snižováním do nulové hodnoty.

            účinné od 1. 3. 2004Amplituda magnetické polarizace J_a se určí měřením střední hodnoty usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí podle vztahu (4).

            účinné od 1. 3. 2004Amplituda intenzity magnetického pole ve vzorku H_a se určí měřením amplitudy proudu v obvodu primárního vinutí I_1a, to je měřením amplitudy napětí U_1a na odporu R v zapojení podle obrázku 1. Platí I_1a = U_1a / R. Amplituda intenzity magnetického pole se vypočte z rovnice:

            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004kde
            2. účinné od 1. 3. 2004H_a je amplituda intenzity magnetického pole ve vzorku,
            3. účinné od 1. 3. 2004I_1a je amplituda magnetovacího proudu v obvodu primárního vinutí
            4. účinné od 1. 3. 2004l_m smluvený efektivní délka magnetického obvodu vzorku
            5. účinné od 1. 3. 2004N₁ je celkový počet závitů primárního vinutí Epsteinova přístroje
            účinné od 1. 3. 2004

            1. účinné od 1. 3. 2004Obrázek 2

            účinné od 1. 3. 2004Alternativně může být amplituda intenzity magnetického pole určena měřením střední hodnoty usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí vzájemné indukčnosti M_D, jejíž primární vinutí je zapojeno v sérii s primárním vinutím Epsteinova přístroje v zapojení podle schématu na obrázku 3. Při použití této metody je nezbytné kontrolovat tvar časového průběhu napětí U_Dm osciloskopem, časový průběh musí mít pouze dva průchody nulovou hodnotou během jedné periody. Jako voltmetr střední hodnoty nutný k měření U_Dm lze použít voltmetr měřící sekundární napětí Epsteinova přístroje a přepínač, jak je znázorněno na obrázku 3.

            účinné od 1. 3. 2004Amplituda intenzity magnetického pole se vypočte z rovnice:

            účinné od 1. 3. 2004
            1. účinné od 1. 3. 2004kde
            2. účinné od 1. 3. 2004M_D je vzájemná indukčnost v obvodu podle obr. 3 v H
            3. účinné od 1. 3. 2004R_v je vnitřní resistance voltmetru střední hodnoty v Ω,
            4. účinné od 1. 3. 2004R_m je resistance sekundárního vinutí vzájemné indukčnosti M_D v Ω,
            5. účinné od 1. 3. 2004U_Dm je střední hodnota usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí M_D.
            účinné od 1. 3. 2004

            1. účinné od 1. 3. 2004Obrázek 3
   1. účinné od 1. 3. 20042.2.2 Nápisy a značky
      1. účinné od 1. 3. 20042.2.2.1 Měřicí sestava

         účinné od 1. 3. 2004Speciální nápisy a značky na měřicí sestavě jsou nahrazeny technickou dokumentací, která musí být vypracována a která musí obsahovat:

         1. účinné od 1. 3. 2004a) seznam všech měřidel a zařízení, která přísluší k měřicí sestavě, s uvedením výrobců a výrobních čísel a popřípadě chyb měřidel a měřicí sestavy podle údajů výrobce,
         2. účinné od 1. 3. 2004b) podrobné a přehledné schéma zapojení pro příslušný druh měření, technické popisy a návody k obsluze součástí měřicí sestavy,
         3. účinné od 1. 3. 2004c) stručné popisy způsobů měření a napájení (například napájení zesilovačem vynucujícím sinusový časový průběh magnetické indukce, měření výkonu převodníkem na základě vzorkovacího principu, využití řídícího počítače),
         4. účinné od 1. 3. 2004d) dolní a horní meze rozsahů, při kterých bude měřicí sestava používána,
         5. účinné od 1. 3. 2004e) impedance důležitých součástí a měřidel,
         6. účinné od 1. 3. 2004f) seznam etalonových vzorků,
         7. účinné od 1. 3. 2004g) kalibrační nebo ověřovací listy měřidel, která jsou součástí měřicí sestavy, pokud kalibrace nebo ověření byly provedeny,
         8. účinné od 1. 3. 2004h) ověřovací list měřicí sestavy při následném ověření,
         9. účinné od 1. 3. 2004i) kniha záznamů všech měření s etalonovými vzorky příslušejícími k měřicí sestavě.
      1. účinné od 1. 3. 20042.2.2.2 Epsteinův přístroj

         účinné od 1. 3. 2004Cívky Epsteinova přístroje musí být označeny. Doporučuje se označení ve smyslu hodinových ručiček A, B, C, D. Na Epsteinově přístroji i v dokumentaci měřicí sestavy musí být uvedeny počty závitů primárního i sekundárního vinutí.

      1. účinné od 1. 3. 20042.2.2.3 Etalonové vzorky

         účinné od 1. 3. 2004Etalonový vzorek musí být označen evidenčním číslem nebo písmeny, a to stejným, trvalým a nesmazatelným způsobem na každém pásku etalonového vzorku.

         účinné od 1. 3. 2004Všechny pásky etalonového vzorku musí být označeny tak, aby jejich složení v Epsteinově přístroji bylo možné jediným způsobem.

         účinné od 1. 3. 2004Ke každému etalonovému vzorku musí být vystaven evidenční list, ve kterém musí být uvedeno:

         1. účinné od 1. 3. 2004a) evidenční označení etalonového vzorku,
         2. účinné od 1. 3. 2004b) druh a typ materiálu,
         3. účinné od 1. 3. 2004c) průřez vzorku,
         4. účinné od 1. 3. 2004d) hustota vzorku,
         5. účinné od 1. 3. 2004e) hmotnost vzorku,
         6. účinné od 1. 3. 2004f) počet pásků vzorku,
         7. účinné od 1. 3. 2004g) tloušťka, šířka a délka pásků vzorku.

         účinné od 1. 3. 2004Pokud jsou všechny údaje, které mají být uvedeny v evidenčním listu, uvedeny v kalibračním listu vzorku, etalonový vzorek nemusí mít evidenční list.

1. účinné od 1. 3. 20043.1 Postup při schvalování typu
   1. účinné od 1. 3. 20043.1.1 Předběžné posouzení

      účinné od 1. 3. 2004Posuzující orgán na základě prostudování dokumentace¹) zjišťuje, zda dokumentace a následně měřící sestava splňuje požadavky této vyhlášky, rozhodne o pokračování zkoušek nebo podá návrh na negativní ukončení zkoušek.

   1. účinné od 1. 3. 20043.1.2 Předběžná zkouška měřením vzorků materiálu
      1. účinné od 1. 3. 20043.1.2.1 Žadatel doručí posuzujícímu orgánu nejméně 2 kusy etalonových vzorků příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě. Tyto vzorky musí pokrývat svou hmotností a svými magnetickými vlastnostmi rozsah hmotností a magnetických vlastností vzorků měřených zkoušenou měřicí sestavou v rámci rozsahu zkoušky typu. Tyto etalonové vzorky musí splňovat požadavky uvedené v bodě 2.2.1.2 a 2.2.2.3. K etalonovým vzorkům žadatele musí být přiloženy kopie evidenčních listů vzorků popřípadě předchozí ověřovací listy vzorků. K doručeným etalonovým vzorkům musí být přiloženy výsledky a protokoly jejich měření zkoušenou měřicí sestavou v rozsazích prováděných zkoušek ne starší než 3 měsíce do data doručení.
      2. účinné od 1. 3. 20043.1.2.2 U doručených vzorků se změří na etalonové měřicí sestavě posuzujícího orgánu měrné ztráty a amplitudová charakteristika podle bodu 2.2.1.3. K změřenému vzorku se vystaví ověřovací list, kde se uvedou aritmetické střední hodnoty z opakovaných měření.
      3. účinné od 1. 3. 20043.1.2.3 Vypočtou se relativní rozdíly měření měrných ztrát etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v %
         účinné od 1. 3. 2004
         1. účinné od 1. 3. 2004kde p_1i je aritmetický střed měření i-té hodnoty měrných ztrát zkoušenou měřicí sestavou (výsledky měření zaslané od žadatele spolu s etalonovými vzorky),
         2. účinné od 1. 3. 2004p_2i je aritmetický střed měření i-té hodnoty měrných ztrát etalonovou měřicí sestavou (výsledky měření uvedené ve vystaveném kalibračním listě).

         účinné od 1. 3. 2004Hodnoty relativních rozdílů měrných ztrát δ_pi zjištěné v rámci této zkoušky musí být menší než 3% pro vzorky z orientovaného materiálu pro hodnoty magnetické polarizace do 1,7 T a pro vzorky z neorientovaného materiálu pro hodnoty magnetické polarizace do 1,5 T.

      1. účinné od 1. 3. 20043.1.2.4 Vypočtou se relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v % jako minimální normované vzdálenosti i-tého bodu (B_i,H_i) charakteristiky zjištěné měřením zkoušenou měřicí sestavou od charakteristiky určené měřením téhož etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou podle rovnice (11), (12) nebo (13):
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         1. účinné od 1. 3. 2004kde odmocniny se berou jen kladné a kde
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         účinné od 1. 3. 2004
         1. účinné od 1. 3. 2004(dB / dH)_i je směrnice tečny křivky dané měřením etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou v bodě (H_i, B_i'),
         2. účinné od 1. 3. 2004H_i a B_i jsou hodnoty intenzity magnetického pole resp. magnetické indukce i-tého bodu charakteristiky etalonového vzorku měřené zkoušenou měřicí sestavou,
         3. účinné od 1. 3. 2004B_i´je hodnota magnetické indukce odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu H_i,
         4. účinné od 1. 3. 2004H_i´ je hodnota intenzity magnetického pole odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu B_i.

         účinné od 1. 3. 2004Relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky δ_ai musí být menší než 4 % pro všechny body měření charakteristik etalonových vzorků v rámci této zkoušky.

   1. účinné od 1. 3. 20043.1.3 Prohlídka zkoušené měřicí sestavy

      účinné od 1. 3. 2004Vnější prohlídka a kontrola předepsané technické dokumentace probíhá v místě užívání zkoušené měřicí sestavy. Při vnější prohlídce se kontroluje:

      1. účinné od 1. 3. 2004a) měřicí sestava nesmí být mechanicky poškozena,
      2. účinné od 1. 3. 2004b) měřicí sestava musí sestávat z měřidel, etalonů a součástí uvedených v dokumentaci,
      3. účinné od 1. 3. 2004c) uspořádání měřidel a součástí musí být v souladu se schématem zapojení pro příslušný druh měření,
      4. účinné od 1. 3. 2004d) úplnost všech dokumentů požadovaných v bodu 2.2.2.
   1. účinné od 1. 3. 20043.1.4 Zkouška měřením vzorků materiálů

      účinné od 1. 3. 2004Při zkoušce měřením vzorků se měří etalonové vzorky (příslušející k etalonové měřicí sestavě) zkoušejícího metrologického orgánu v jeho přítomnosti zkoušenou měřicí sestavou ve shodě s bodem 3.1.2.

   1. účinné od 1. 3. 20043.1.5 Vypracování protokolu o technické zkoušce

      účinné od 1. 3. 2004Protokol o technické zkoušce obsahuje popis a výsledky zkoušek provedených podle bodu 3.1.2, 3.1.3 a 3.1.4, které musí mít kladný výsledek. Dále obsahuje popisy, nákresy a schémata nutné pro identifikaci typu a objasnění jeho funkce.

1. účinné od 1. 3. 20043.2 Certifikát schválení typu

   účinné od 1. 3. 2004Náležitosti certifikátu schválení typu stanoví zvláštní právní předpis²).

účinné od 1. 3. 2004Prvotní a následné ověřování sestává ze zkoušek podle bodu 3.1.2, 3.1.3 a 3.1.4. Pokud je výsledek všech těchto zkoušek kladný a měřicí sestava splňuje požadavky stanovené touto vyhláškou, vystaví se ověřovací list a zkoušená měřicí sestava se opatří úřední značkou³).